Choose an application

• Reference Manager
• EndNote
• RefWorks (Direct export to RefWorks)

Choose an application

• Reference Manager
• EndNote
• RefWorks (Direct export to RefWorks)

Choose an application

• Reference Manager
• EndNote
• RefWorks (Direct export to RefWorks)

Choose an application

• Reference Manager
• EndNote
• RefWorks (Direct export to RefWorks)

Precisietechnologie is vandaag de dag een belangrijke en sterk ontwikkelende sector. Precisie betekent dat iets nauwkeurig is, maar het impliceert niet dat het perfect is. Het is voor veel producenten en gebruikers van precisietechnologie van belang dat ze kennis hebben van deze imperfectie. Xeryon is één van zulke producenten. In opdracht van Xeryon werd een meetopstelling ontworpen, gebouwd, getest en gevalideerd die het stampen, gieren, rollen, de horizontale en verticale rechtheid en de herhaalbaarheid van de XLS-1 serie lineaire piëzo sledes kan opmeten. Deze opstelling is gebaseerd op het gebruik van capacitieve sensoren. Door het eenvoudig verplaatsen van de sensoren tussen verschillende boringen en deze aan te spannen worden verschillende sensorconfiguraties voor het opmeten van de vrijheidsgraden gedefinieerd. Op basis van een elektronische link met de driver van de slede die deze doet bewegen, werd per soort meting in LabVIEW een geautomatiseerde meetopstelling geprogrammeerd. Moeilijkheden traden op bij het nauwkeurig uitlijnen van de meetopstelling. Nauwkeurige uitlijningselementen werden dan ook toegevoegd om de uitlijning nauwkeurig te maken. Omdat de slede geanodiseerd is kan hier niet rechtstreeks op gemeten worden met capacitieve sensoren. Hiervoor is een meetartefact ontwikkeld en op slede geplaatst tijdens de metingen. Bij de dataverwerking moet hiermee rekening gehouden. De scheefstand en het oppervlakteprofiel van het meetartefact introduceren extra afwijkingen op de metingen die er later afgetrokken moeten worden. Metingen werden uitgevoerd op de XLS-1 slede met een lengte van 60 mm. De slede stampt maximaal over een bereik van 207 ” (boogseconden), gaande van -107 ” tot +100 ”, ze giert over een bereik van 59 ”, gaande van -25 “ tot +34 “ en rolt over een bereik van 31 ”, gaande van -12 ” tot +19 ”. De verticale rechtheid heeft een maximale uitwijking van 8,2 µm , horizontaal is dit 4,3 µm. De positie-herhaalbaarheid is gemiddeld 0,3 µm met een standaarddeviatie van 0,118 µm. Dezelfde afwijkingen werden ook opgemeten met een meetopstelling die gebruik maakte van een laser interferometer ter validatie. De resultaten uit beide meetopstellingen zijn van gelijkaardige grootteordes. De afwijkingen zijn grotendeels te wijten aan het meetartefact. Hieruit kan geconcludeerd worden dat de gebouwde meetopstelling zijn doelstelling bereikt. Een eventuele verbetering kan zijn dat het meetartefact nauwkeuriger geproduceerd wordt. Meten zonder meetartefact is meer ideaal maar kan op deze sledes niet wegens anodisatie van het oppervlak. Zonder meetartefact zijn er geen extra afwijkingen van schuinstand en oppervlakteprofiel en zijn de vrijheidsgraden nauwkeuriger op te meten. Om de correctheid van de interne encoder in de slede na te gaan werd ook de positienauwkeurigheid en indexnauwkeurigheid bepaald. Aangezien een positiemeting niet mogelijk is met capacitieve sensoren, werd dit ook met de laser interferometer uitgevoerd. De maximale afwijking van de encoder ten opzichte van de laser interferometer is 35.6 µm en heeft een periodiciteit waarbij de frequenties 1.56 golf/mm en 3.12 golf/mm prominent aanwezig zijn. Als alternatief op de meetopstelling met capacitieve sensoren werd een meetopstelling ontworpen die detectie uitvoert met vierkwadrantendioden en die tegelijkertijd het stampen, gieren en rollen kan opmeten. Het is echter niet mogelijk om afstandsmetingen uit te voeren met dat ontwerp.

Choose an application

• Reference Manager
• EndNote
• RefWorks (Direct export to RefWorks)

Precisietechnologie is vandaag de dag een belangrijke en sterk ontwikkelende sector. Precisie betekent dat iets nauwkeurig is, maar het impliceert niet dat het perfect is. Het is voor veel producenten en gebruikers van precisietechnologie van belang dat ze kennis hebben van deze imperfectie. Xeryon is één van zulke producenten. In opdracht van Xeryon werd een meetopstelling ontworpen, gebouwd, getest en gevalideerd die het stampen, gieren, rollen, de horizontale en verticale rechtheid en de herhaalbaarheid van de XLS-1 serie lineaire piëzo sledes kan opmeten. Deze opstelling is gebaseerd op het gebruik van capacitieve sensoren. Door het eenvoudig verplaatsen van de sensoren tussen verschillende boringen en deze aan te spannen worden verschillende sensorconfiguraties voor het opmeten van de vrijheidsgraden gedefinieerd. Op basis van een elektronische link met de driver van de slede die deze doet bewegen, werd per soort meting in LabVIEW een geautomatiseerde meetopstelling geprogrammeerd. Moeilijkheden traden op bij het nauwkeurig uitlijnen van de meetopstelling. Nauwkeurige uitlijningselementen werden dan ook toegevoegd om de uitlijning nauwkeurig te maken. Omdat de slede geanodiseerd is kan hier niet rechtstreeks op gemeten worden met capacitieve sensoren. Hiervoor is een meetartefact ontwikkeld en op slede geplaatst tijdens de metingen. Bij de dataverwerking moet hiermee rekening gehouden. De scheefstand en het oppervlakteprofiel van het meetartefact introduceren extra afwijkingen op de metingen die er later afgetrokken moeten worden. Metingen werden uitgevoerd op de XLS-1 slede met een lengte van 60 mm. De slede stampt maximaal over een bereik van 207 ” (boogseconden), gaande van -107 ” tot +100 ”, ze giert over een bereik van 59 ”, gaande van -25 “ tot +34 “ en rolt over een bereik van 31 ”, gaande van -12 ” tot +19 ”. De verticale rechtheid heeft een maximale uitwijking van 8,2 µm , horizontaal is dit 4,3 µm. De positie-herhaalbaarheid is gemiddeld 0,3 µm met een standaarddeviatie van 0,118 µm. Dezelfde afwijkingen werden ook opgemeten met een meetopstelling die gebruik maakte van een laser interferometer ter validatie. De resultaten uit beide meetopstellingen zijn van gelijkaardige grootteordes. De afwijkingen zijn grotendeels te wijten aan het meetartefact. Hieruit kan geconcludeerd worden dat de gebouwde meetopstelling zijn doelstelling bereikt. Een eventuele verbetering kan zijn dat het meetartefact nauwkeuriger geproduceerd wordt. Meten zonder meetartefact is meer ideaal maar kan op deze sledes niet wegens anodisatie van het oppervlak. Zonder meetartefact zijn er geen extra afwijkingen van schuinstand en oppervlakteprofiel en zijn de vrijheidsgraden nauwkeuriger op te meten. Om de correctheid van de interne encoder in de slede na te gaan werd ook de positienauwkeurigheid en indexnauwkeurigheid bepaald. Aangezien een positiemeting niet mogelijk is met capacitieve sensoren, werd dit ook met de laser interferometer uitgevoerd. De maximale afwijking van de encoder ten opzichte van de laser interferometer is 35.6 µm en heeft een periodiciteit waarbij de frequenties 1.56 golf/mm en 3.12 golf/mm prominent aanwezig zijn. Als alternatief op de meetopstelling met capacitieve sensoren werd een meetopstelling ontworpen die detectie uitvoert met vierkwadrantendioden en die tegelijkertijd het stampen, gieren en rollen kan opmeten. Het is echter niet mogelijk om afstandsmetingen