TY - THES ID - 136865328 TI - Kwaliteitsonderzoek van silicium voor ladingsgekoppelde structuren in metaal-oxyde-halfgeleidersystemen bestemd voor integratie op grote schaal. AU - Claeys, C. L. M. AU - KUL. Faculteit toegepaste wetenschappen PY - 1979 PB - s. n. Leuven s.n. DB - UniCat UR - https://www.unicat.be/uniCat?func=search&query=sysid:136865328 AB - ER -