TY - THES ID - 136004152 TI - C-V Simulations for Interface Trap Density Determination in III-V/high-k MOS Capacitors AU - Bakalov, Petar AU - Locquet, Jean-Pierre. AU - K.U.Leuven. Faculteit Wetenschappen. Opleiding Master in de fysica PY - 2011 PB - Leuven K.U.Leuven. Faculteit Wetenschappen DB - UniCat UR - https://www.unicat.be/uniCat?func=search&query=sysid:136004152 AB - ER -