TY - THES ID - 128370843 TI - Caracterisation de defauts à l'interface silicium-oxyde de silicium dans les structures M.O.S. par des methodes spectroscopiques AU - Vuillaume, Dominique AU - Université des Sciences et Techniques de Lille PY - 1984 PB - Lille : Université des Sciences et Techniques de Lille, DB - UniCat UR - https://www.unicat.be/uniCat?func=search&query=sysid:128370843 AB - ER -